روشی خودکار برای اندازه‌گیری صافی سطح قطعات نوری در تداخل سنجی

دوفصلنامه فیزیک اتمی و مولکولی

مقاله 3، دوره 6، شماره 24، آذر 1394، صفحه 27-34   

نوع مقاله: پژوهشی

چکیده

در این کار روشی خودکار برای اندازه­گیری صافی سطح قطعات نوری از طریق آزمایش­های تداخل سنجی ارائه شده است. ابتدا روابط موردنیاز برای توصیف چگونگی شکل­گیری نوارهای تداخلی در آزمایش­های صافی سطح به دست آمده­اند. با توجه به روابط به دست آمده و وصف چگونگی انحراف نوارهای تداخلی از حالت صاف به حالت انحنادار در صورت ناصاف بودن سطح قطعه، روش استاندارد اندازه­گیری صافی سطح مورد بررسی قرار گرفته است. در ادامه با استفاده از برنامه­نویسی در محیط متلب و استفاده از الگوریتم­های پردازش تصویر، روشی خودکار برای اندازه­گیری صافی سطح در آزمایش­های تداخل­سنجی ارائه شده و بر اساس آن رابط گرافیک کاربری برای ارتباط آسان­تر کاربران با سیستم تداخل­سنجی توسعه داده شده است.

کلیدواژه‌ها

صافی سطح؛ نوارهای تداخلی؛ الگوریتم‌های پردازش تصویر