بررسی مشخصه های اپتیکی لایه های نازک ZrO2 و TiO2 در راستای استفاده در قطعات لیزرهای پر توان

دوفصلنامه فیزیک اتمی و مولکولی

مقاله 6، دوره 6، شماره 24، آذر 1394، صفحه 49-56   

نوع مقاله: پژوهشی

چکیده

در این مقاله پس از ساخت لایه های  نازک TiO₂ و ZrO₂ بر روی زیر لایه BK7 به روش تبخیر با باریکه الکترونی، طیف عبوری
 UV-visible از لایه ها تهیه شده است. با استفاده از طیف عبوری، ضریب شکست لایه ها به دست آمده است. تصاویر AFM از لایه های نازک TiO₂و ZrO₂ تهیه شده است. اندازه‌گیری پراکندگی این لایه های نازک با روش پراکندگی تجمعی کلی یا TIS و روش AFM انجام شده است. همچنین، مقادیر زبری سطح و تخلخل و هدایت گرمایی  لایه ها محاسبه شده است و دو لایه از لحاظ پارامترهای پراکندگی و آستانه تخریب لیزری و تغییرات ضریب شکست در اثر تغییرات حرارتی با هم مقایسه شده اند.

کلیدواژه‌ها

لایه های نازک؛ پراکندگی؛ زبری سطح؛ تخلخل؛ هدایت گرمایی؛ آستانه تخریب لیزری