بررسی سنتز ذرات نانوساختار سیلیکات روی (Zn2SiO4) با فرآیند سل- ژل

نانومواد

مقاله 7، دوره 1، شماره 3، آذر 1388، صفحه 193-200   

نویسندگان

داوود بارانی؛ رسول صراف ماموری^* ؛ مهرداد کوکبی

تهران- دانشگاه تربیت مدرس- گروه مهندسی مواد، دانشکده فنی و مهندسی

چکیده

در این تحقیق ذرات نانوساختار سیلیکات روی با فرآیند سل- ژل از پیش­ماده­های تترا اتیل اکسی سیلان و نیترات روی سنتز شدند. با آنالیز­های DTA از ژل و XRD از ژل کلسینه شده تغییرات ساختاری در دماهای مختلف بررسی شدند. نتایج XRD تشکیل ساختارهای آمورف و تشکیل فاز کریستالی Zn₂SiO₄ را با افزایش دمای کلسیناسیون نشان دادند. با توجه به الگوی XRD از نمونه­های کلسینه شده در دماهای 800 و 900 درجه سانتیگراد و روش شرر به ترتیب اندازه دانه‌ها 13 و 27 نانومتر به دست آمد. همچنین آنالیز حرارتی مواد اولیه در دماهای کم پیک­های گرماگیر تبخیر حلال و تجزیه فازهای آلی و در دمای بالا پیک گرمازای تشکیل فاز Zn₂SiO₄ را نشان داد. علاوه بر این تصاویر SEM نشان دادند که تفاوت بین اندازه ذرات فاز آمورف و فاز کریستالی ناچیز است و محدوده آن بین 50 تا 400 نانومتر می‌باشد. همچنین آزمون اسپکتروسکوپی UV نیز برای بررسی خواص فوتوکاتالیستی نتایج قابل قبول نشان داد.

کلیدواژه‌ها

ذرات نانوساختار Zn2SiO4؛ تترا اتیل اکسی سیلان؛ نیترات روی؛ فرآیند سل-ژل؛ فوتوکاتالیست

مراجع