تعداد نشریات | 418 |
تعداد شمارهها | 9,985 |
تعداد مقالات | 83,466 |
تعداد مشاهده مقاله | 76,586,781 |
تعداد دریافت فایل اصل مقاله | 53,697,972 |
بررسی کمی تاثیر نانوتخلخلهای سطحی سیلیکون و دما بر چگالی جریان اتصال کوتاه و ولتاژ مدار باز در سلولهای خورشیدی | ||
نانومواد | ||
دوره 13، شماره 47، مهر 1400، صفحه 205-211 اصل مقاله (608.64 K) | ||
نوع مقاله: مقاله پژوهشی | ||
نویسندگان | ||
نسرین صالحی* 1؛ مجتبی واحدی2؛ محمد مهدی حسینی2 | ||
1دانشکده علوم پایه، واحد شاهرود، دانشگاه آزاد اسلامی، شاهرود، ایران | ||
2دانشکده فنی و مهندسی، واحد شاهرود، دانشگاه آزاد اسلامی، شاهرود، ایران | ||
چکیده | ||
در این مقاله به بررسی رفتار دمایی چگالی جریان اتصال کوتاه (Jsc) و ولتاژ مدار باز (Voc) (در بازه دمایی °C 25-120) در دو نمونه سلول خورشیدی یکی با لایه دارای نانوتخلخلهای سطحی سیلیکون و دیگری بدون تخلخل پرداخته شد. نتیجه محاسبات حاکی از آن است که تغییرات دمایی گاف نواری عامل اصلی در توجیه رفتار کاهشی ولتاژ مدار باز (در حدود mV/°C 5/2) و رفتار افزایشی جریان اتصال کوتاه (در حدود mV/°C 02/0) در این نمونهها به ترتیب ناشی از افزایش جریان اشباع معکوس دیودی، Js(T) و گسترش جذب طیف خورشید در ناحیه فروسرخ میباشد. همچنین بزرگتر بودن جریان اتصال کوتاه و ولتاژ مدار باز و افزایش بازده در قطعه متخلخل در مقایسه با نمونه بدون تخلخل ناشی از افت بازتابندگی سطحی در نمونه دارای نانوتخلخلهای سطحی میباشد. محاسبات نظری ما نشانگر افزایش مقاومت متوالی و کاهش ضریب پرکنندگی قطعه متخلخل نسبت به نمونه عادی است که میتواند ناشی از ساختار هندسی اتصال اهمی و حضور ستونهای سیلیکونی در سطح قطعه، در نقش مانع برای حرکت افقی حاملهای نوری باشد. | ||
کلیدواژهها | ||
چگالی جریان اتصال کوتاه؛ سلول خورشیدی؛ نانوتخلخل سیلیکون؛ وابستگی دمایی؛ ولتاژ مدار باز | ||
مراجع | ||
| ||
آمار تعداد مشاهده مقاله: 114 تعداد دریافت فایل اصل مقاله: 129 |